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我們的服務

高加速試驗一般分為寶加速壽命試驗和高加速應力應力篩選試驗，高加速壽命試驗（Highly Accelerated Life Testing，簡稱HALT試驗）是一種利用快速高、低溫變換的震蕩體系來揭示電子和機械裝配件設計缺陷和不足的過程。HALT的目的是在產(chǎn)品開發(fā)的早期階段識別出產(chǎn)品的功能和破壞極限，從而優(yōu)化產(chǎn)品的可靠性。HALT不是一種合格或者不合格的測試，是一種協(xié)助設計工程師改善產(chǎn)品可靠性的工具，沒有預先設定極限，極限由產(chǎn)品決定，逐步增加應力，直至失效，試驗中需要對產(chǎn)品進行監(jiān)測。HASS（Highly Accelerated Stress Screening）試驗產(chǎn)品通過HALT試驗得出操作或破壞極限值后所做的高加速應力篩選,應力低于HALT試驗。

產(chǎn)品范圍

可為電工電子、儀器儀表、汽車以及航天產(chǎn)品的模塊、通訊終端、部件以及整機等開展Halt/Hass試驗。

相關資質

CNAS，CMA

測試標準

GB/T 29309；

DKBA1141《通信產(chǎn)品HALT試驗規(guī)范》

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